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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)品分類
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適用范圍：糙面土工膜毛糙高度測(cè)定儀依據(jù)GB/T17643-2011標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造，主要適用于糙面土工膜試樣上用深度計(jì)測(cè)量膜面凸出處（峰）與凹陷處（谷）表面之間的高度差，對(duì)樣品在寬度方向上所有效點(diǎn)的測(cè)量值取平均值作為糙面土工膜的毛糙高度。
儀器：深度計(jì)一般由刻度盤(pán)指示器和測(cè)試臺(tái)組成。
a）、刻度盤(pán)指示器至少應(yīng)有2.5mm的量程，精確到±0.01mm。
b)、測(cè)試臺(tái)，一般包括定位塊和測(cè)針，測(cè)針上下移動(dòng)的范圍不應(yīng)超過(guò)定位塊。定位塊的底部尺寸為50mm×20mm，測(cè)針直徑為1.3mm±0.1mm.
二、糙面土工膜毛糙高度測(cè)定儀技術(shù)參數(shù)
1、測(cè)量里程：0-12.7mm
2、測(cè)量精度：0.01mm
3、測(cè)針直徑：1.3mm
4、定 位 塊： 50*20*15mm
依據(jù)GB/T17643-2011標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造，主要適用于糙面土工膜試樣上用深度計(jì)測(cè)量膜面凸出處（峰）與凹陷處（谷）表面之間的高度差，對(duì)樣品在寬度方向上所有
有效點(diǎn)的測(cè)量值取平均值作為糙面土工膜的毛糙高度。
儀器：深度計(jì)一般由刻度盤(pán)指示器和測(cè)試臺(tái)組成。
a）、刻度盤(pán)指示器至少應(yīng)有2.5mm的量程，精確到±0.01mm。
b)、測(cè)試臺(tái)，一般包括定位塊和測(cè)針，測(cè)針上下移動(dòng)的范圍不應(yīng)超過(guò)定位塊。定位塊的底部尺寸為50mm×20mm，測(cè)針直徑為1.3mm±0.1mm.
二、技術(shù)參數(shù)
1、測(cè)量里程：0-12.7mm
2、測(cè)量精度：0.01mm
3、測(cè)針直徑：1.3mm
4、定 位 塊： 50*20*15mm
當(dāng)前位置：
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